成电讲堂

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IEEE Fellow、特拉华大学Gonzalo R. Arce教授做客EE论坛
文:黄仰光 图:电工学院 来源:原电子工程学院 时间:2017-04-12 4124

  4月6日下午,IEEE Fellow、特拉华大学Gonzalo R. Arce教授应邀做客电子工程学院“EE论坛”,为学校师生作题为“Computational Spectral+Depth Imaging”的精彩学术讲座。讲座由IEEE Fellow、电子工程学院朱策教授主持。

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  Gonzalo R.Arce教授主要介绍了单孔压缩光谱+深度成像照相机的发展,即采用3D范围ToF传感器作为编码孔径压缩光谱成像仪的感测装置。他表示,该系统代表了现有的RGB+D相机的显著改进,它集成了两个独立的图像传感器,一个用于RGB,另一个用于深度。此外,CSI设备的可观测波长范围从可见到近红外分辨率扩展到多达14个独立通道。Gonzalo教授通过在组合的CSI+ToF测试台摄像机系统上进行的实验展示了所提出的想法。

  在交流讨论环节,同学们纷纷向Gonzalo R. Arce教授提问,表达了自己对单孔压缩光谱+深度成像照相机的想法和对未来发展的兴趣。Gonzalo R. Arce教授引用实例,解答了同学们的疑问。通过此次报告,同学们都受益匪浅,对深度图像成像和计算性光谱有了进一步的认识和了解,希望在今后的学习和研究中能够深入挖掘。

  此次EE论坛由电子工程学院主办、电子工程学院研究生会承办。                   

  相关链接:

  Dr. Gonzalo R. Arce is the Charles Black Evans Professor in the Electrical and Computer Engineering Department and the JPMorgan-Chase Faculty Fellow at the Institute of Financial Services Analytics. His fields of interest include computational imaging and spectroscopy, signal processing, and the analysis and processing of massive data. He received the 2010-2011 and 2017 Nokia-Fulbright Distinguished Chair in Information and Communications Technologies. He is a Fellow of the IEEE and the Center for Advanced Studies.


编辑:林坤  / 审核:罗莎  / 发布:罗莎

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